LIF&PLIF诊断系统详细介绍

LIF（LaserInducedFluorescence）与PLIF（PlanarLaserInducedFluorescence）是一种广泛用于液态、气态等物质燃烧场中各种组分浓度与温度场分析的重要分析方法，由于它是采用光学非接触式测量，同时又具有很高的灵敏度以及时间与空间分辨率，因此很受广大科研人员的欢迎。LIF&PLIF诊断系统详细介绍目前，LIF以及PLIF的主要应用领域包括：过程工程学：例如搅拌器的混合，加热以及冷却系统生物医药工程学流体力学：扰动混合，热传递模型，...

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Ophir高功率激光功率计快门保护罩介绍

针对激光加工过程中普遍存在的材料碎屑对功率测量探头污染与损坏，影响其使用寿命和测量精度的情况，Ophir专门设计了保护5000W和10KW探头的带有shutter的保护罩，以保护您昂贵的功率探头免受污染。这种保护装置可以有效的保护探头表面的吸收层免受加工材料碎片的污染和损坏。保护罩可以在电磁操控下，随时开启和关闭快门。保护罩需要通过探头前边的法兰和探头连接在一起。型号5000W、10KW带有Shutter的保护罩（a）使用保护探头免受加工过程材料碎屑的污染支持探头5000W和...

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光谱式测量为CCFL、LED背光LCD及OLED等平板显示技术提供了zui高精度的亮度、色度测量。现有的光谱式测量的主要不足是需要很长的测试时间。PhotoResearch的A-TAKT™系列光谱式辐射度计弥补了这一不足，实现了光谱式精度的实时产线测试。A-TAKT™系列包含三款——V-7HS、V-7WD和V-6AQL，针对FPD产线测试不同测试应用。具有如下总的特点：特点优势采用制冷型CCD探测器有效抑制暗噪声及杂散光；可调取、使用测试对象的图像，不...

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Andorx射线探测方案

直接和间接探测针对不同的x射线应用，不管是影像，还是光谱，Andor都可以提供全面的CCD探测系统。根据应用和能量不同，这些系统可以放置在真空内使用，或者通过法兰和真空腔相连，也可以是单独使用。另外，如果您的应用需要对x射线进行间接探测，Andor也可以提供各种光纤耦合的CCD相机.Andorx射线探测方案有益于如下各种应用：X射线/中子断层扫描X射线光谱X射线显微X射线光斑检测X射线衍射X射线平板印刷术X射线地形学等离子体研究医疗影像汤姆森散射X射线可以大致可以分为几个范围...

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THz成像技术介绍

THz成像技术是THz技术发展的重要方向之一，在国防、安检、材料、生物和医疗领域都有着重大意义。目前THz成像技术主要分为：扫描成像和THz面阵探测器直接成像，但是这两种方式都面临着重大的技术挑战。首先，THz扫面成像，这种方式多应用在时域光谱领域中，扫面成像需要的时间较长，无法实时成像，且随着空间分辨率的提高及扫描面积的加大，所需要的时间越长，使得这种方式的发展在很多应用中受到限制，如国防、安检、生物医疗等；另该方式产生的THz辐射较弱，相应的穿透力较弱，且由于水对于THz...

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