棱镜耦合测试仪的主要测试功能

　　

　　对于厚膜折射率的测量，单色光被直接照射到被测样品上，这样，从薄膜表面反射回来的光的干涉小值就会发生变化，光的入射角也会发生变化。在这种技术中，薄膜厚度是由两个干涉小值的角的位置计算出来的。对于这种测量条件——薄膜具有两个或两个以上的干扰小值——薄膜厚度必须大于低脱粒率，通常为2微米。样品夹持机采用真空从背面支撑样品，安装方便简单。可测量薄膜/基底的类型，硅衬底上几乎任何透明或半透明材料的氧化物、氮化物、介质、聚合物或薄膜。可测量的薄膜/衬底类型：氧化物、氮化物、介电材料、聚合物、或硅衬底上几乎任何透明或半透明材料的薄膜。

　　

　　主要测试功能：

　　1、薄膜及波导折射率/厚度/光损测量；

　　2、体材料折射率的测量；

　　3、薄膜及体材料的双折射测量；

　　4、液体折射率的测量；

　　5、折射率随温度变化的测量分析；

　　6、折射率随深度变化的测量分析；

　　

　　主要应用领域：

　　1、光波导器件芯片的制备；

　　2、激光晶体的制备；

　　3、聚合物材料的属性研究；

　　4、显示技术材料的测量；

　　5、光/磁存储材料的测量；

　　6、光学薄膜的制备。