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OLED/QLED 发光器件寿命测试系统
产品简介：

OLED/QLED 发光器件寿命测试系统 通道数量：32、64、128，可扩展到512 路；测量模式1：恒流、恒压、恒亮度，需根据客户需求选定

产品型号：

更新时间：2025-11-08

厂商性质：代理商

访问量：3277

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产品介绍

OLED/QLED 发光器件寿命测试系统 

32 路系统                              64 路系统

OLED/QLED 发光器件寿命测试系统 

项目

关键指标

备注

通道数量

32、64、128

可扩展到512 路

测量模式1

恒流、恒压、恒亮度

需根据客户需求选定

测量模式2

Pulse 电压、Pulse 电流

选配

电流输出

0.03uA~100mA，精度优于±1%

用户参照核心技术电流源选配

电压输出

饱和亮度

1.0~20V，精度<±1% 通常10000cd/m2 以上

标配

可根据客户需求定制

器件结构

底发光、顶发光、倒装、正装

需根据用户需求定制

测试盒/ 夹具

测试基片尺寸 5cm×5cm

可定制支持20cm×20cm

高温测试

RT+10 度~100 度；-50 度~100 度；环境测试

选配

特殊条件

特殊气氛测试；手套箱测试；UPS 电源等

选配、定制

软件平台

LabView

稳定、高效

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